[发明专利]独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法有效
申请号: | 201310247397.X | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN103279408A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 吴昊;袁清波;苗艳超;刘新春;邵宗有 | 申请(专利权)人: | 曙光信息产业(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 100193 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法,包括:从结果文件中读取断点位置并根据断点位置从配置文件中读取第一参数和多个第二参数;根据第一参数创建RAID;以及根据多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试。利用本发明的测试方法,不需要事先组织大量数据,通过结果文件和配置文件降低了测试人员的劳动强度,实现了对RAID速率的自动测试,减少了测试时间,提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 独立 冗余 磁盘阵列 raid 性能 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种独立冗余磁盘阵列RAID性能的测试方法,其特征在于,包括:从结果文件中读取断点位置并根据所述断点位置从配置文件中读取第一参数和多个第二参数;根据所述第一参数创建RAID;以及根据所述多个第二参数对被创建的RAID进行读写速率测试。
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