[发明专利]粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法有效
| 申请号： | 201310277924.1 | 申请日： | 2013-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN103528929A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 衣笠静一郎 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本东京都千代田*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供可制造误检测少的、用于制作光学式粒子检测装置的光源的制造装置及粒子检测装置的光源的制造方法。包括：保持光源元件（1）的元件保持部（61），保持装有光源元件（1）的基座（2）的基座保持部（62），识别光源元件（1）表面的布线图形方向的识别装置（63），及使光源元件（1）相对于基座（2）相对地旋转，以使光源元件（1）的布线图形相对于基座（2）朝着规定的方向的旋转机构。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 装置 光源 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种粒子检测装置的光源的制造装置，其特征在于，包括：保持光源元件的元件保持部，保持装有所述光源元件的基座的基座保持部，识别所述光源元件表面的布线图形方向的识别装置，及使所述光源元件相对于所述基座相对地旋转，以使所述光源元件的布线图形相对于所述基座朝着规定的方向的旋转机构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿自倍尔株式会社，未经阿自倍尔株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310277924.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种土壤环境阴极保护电位范围评价方法
- 下一篇：一种智能型电动车显示提醒装置
