[发明专利]90纳米CMOS工艺下带偏置电路的静电放电箝位电路有效

专利信息
申请号: 201310280217.8 申请日: 2013-07-04
公开(公告)号: CN103400827A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 刘红侠;杨兆年 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L23/60 分类号: H01L23/60
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种90纳米CMOS工艺下带偏置电路的静电放电箝位电路,主要解决现有90纳米CMOS工艺下的静电放电箝位电路中,RC网络静态漏电大的问题。该电路包括RC网络、反相器、箝位器件和偏置电路;偏置电路给RC网络里的PMOS管Mp3提供栅极的偏置电压Vb,由于偏置电压Vb是高电压,故PMOS管Mp3的源栅电压减小,等效电阻增大,使RC网络的静态漏电减小;静电放电时,受偏置的RC网络检测到静电放电后,给反相器输入检测电压CLK,反相器接收到该检测电压后,给箝位器件输入栅极驱动电压Vg,以开启箝位器件,泄放静电放电电荷。本发明提高了90纳米CMOS工艺下静电放电箝位电路的能效,可用于集成电路的设计。
搜索关键词: 90 纳米 cmos 工艺 偏置 电路 静电 放电 箝位
【主权项】:
一种90纳米CMOS工艺下带偏置电路的静电放电箝位电路,包括:RC网络,由第一电容C1、第二电容C2和第三PMOS管Mp3连接组成,用于检测静电放电,并输出检测电压CLK;反相器,由第四PMOS管Mp4与第一NMOS管Mn1连接组成,用于加强检测电压CLK,并给箝位器件输入栅极驱动电压Vg;箝位器件,用于在静电放电时开启,以泄放静电放电电荷;其特征在于,RC网络的输入端设有偏置电路,用于给RC网络提供偏置电压Vb,提高RC网络中第三PMOS管Mp3的等效电阻,以减小对电容面积的需求,从而减小RC网络的漏电;所述偏置电路,包括第一PMOS管Mp1和第二PMOS管Mp2,该第一PMOS管Mp1,其漏极连接到地电压VSS,其栅极与漏极连接,并连接到第二PMOS管Mp2的漏极;该第二PMOS管Mp2,其源极连接到电源电压VDD,其栅极与源极连接,并连接到第一PMOS管Mp1的源极,并给RC网络输入偏置电压Vb。
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