[发明专利]一种晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺无效
申请号: | 201310282761.6 | 申请日: | 2013-07-08 |
公开(公告)号: | CN103400890A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 涂宏波;李茂林;王学林;陈世明;刘自龙;李仙德;陈康平;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;B08B3/08 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 吴关炳 |
地址: | 314416 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其包括去膜清洗、管式PECVD镀膜、丝网印刷和烧结步骤;所述去膜清洗的具体分步骤为HF去膜、水洗1、HCl酸洗、水洗2、HF酸洗、水洗3、水洗4、水洗5和干燥;除水洗5分步骤外,其余各酸洗和水洗分步骤均需鼓泡。本发明改进了传统返工方法,减少了制绒、扩散以及刻蚀等步骤,工序少,耗时短,降低了生产成本。返工后的硅片表面干净,电池片的转换效率和合格率接近正常水平,外观正常,未产生花片。 | ||
搜索关键词: | 一种 太阳电池 pecvd 色差 片去膜重镀 返工 工艺 | ||
【主权项】:
一种晶硅太阳电池PECVD色差片去膜重镀的返工工艺,其特征在于,包括去膜清洗、管式PECVD镀膜、丝网印刷和烧结步骤;所述去膜清洗的具体分步骤为HF去膜、水洗1、HCl酸洗、水洗2、HF酸洗、水洗3、水洗4、水洗5和干燥;除水洗5分步骤外,其余各酸洗和水洗分步骤均需鼓泡。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的