[发明专利]利用Transwell测量多种细胞对包埋有内皮细胞的细胞基质侵袭性的方法

摘要

本发明是一种利用Transwell测量多种细胞对包埋有内皮细胞的细胞基质侵袭性的方法，在将内皮细胞与细胞基质充分混合后被转移并完全覆盖Transwell嵌套聚碳酸酯膜的下表面；Transwell嵌套固化后被翻转过来并置于预热的多孔细胞培养板无血清细胞培养液中，并在嵌套上方加入事先经荧光标记的待测细胞悬浮液；侵袭后移除嵌套上方未侵袭的细胞，用适当的酶消化细胞基质至液态，通过离心收集其中的细胞。然后用小量PBS悬浮收集到的细胞，并将其中的一部分放入Terasaki板中，置于荧光显微镜下进行图片采集以及后续分析。本发明首次实现了将两种不同类型的细胞放置于接近生理三维结构的模型中，并能够定量测量其中一种细胞相对于另一种细胞的侵袭能力。

主权项

一种利用Transwell测量多种细胞对包埋有内皮细胞的细胞基质侵袭性的方法，其特征在于，其步骤如下：（1）将内皮细胞包埋于基质中，待内皮细胞与基质均匀混合后，混合比例按100微升液态基质中混合1´103～1´106细胞，将内皮细胞及基质的混合物覆盖在Transwell嵌套聚碳酸酯膜的下表面，然后将Transwell嵌套置于室温下进行自然固化或者通过将嵌套放置在37℃温箱中固化；（2）固化完成后，翻转Transwell嵌套并将其置于普通多孔细胞培养板的无血清细胞培养液中，然后在嵌套上方加入事先经荧光标记的待测细胞悬浮液；经过一定的侵袭时间，除去嵌套上方未侵袭的细胞，用适当的酶消化细胞外基质至液态，通过离心收集其中的细胞，包括未标记的内皮细胞以及侵袭入基质已标记的待测细胞，然后用小量PBS悬浮收集到的细胞，并将其中的一部分放入Terasaki板中，置于荧光显微镜下进行图片采集以及后续分析。