[发明专利]基于SiGe BiCMOS的宽带射频芯片静电保护电路有效

专利信息
申请号: 201310302691.6 申请日: 2013-07-12
公开(公告)号: CN103400841A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 庄奕琪;李振荣;李国华;靳刚;李聪 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/06;H01L27/04;H01L23/60
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于SiGe BiCMOS的宽带射频芯片静电保护电路,主要解决现有技术占用面积大及引入寄生电容大的缺点。其包括位于宽带射频输入输出端口的两个集成衬底静电放电二极管D1、D3和位于宽带射频输入输出端口的两个集成N阱静电放电二极管D2、D4。该四个静电放电二极管D1、D2、D3、D4的阴阳极掺杂区及金属接触条均采用梯型叉指结构,外围填充有多晶硅材料以进行自身隔离,且二极管D2、D4的下方设有N型埋层和N型外延层,以减小寄生效应。本发明电路具有结构简单,面积小,寄生电容小,且不增加额外工艺成本的优点,可应用于宽带射频芯片I/O口的静电防护中。
搜索关键词: 基于 sige bicmos 宽带 射频 芯片 静电 保护 电路
【主权项】:
一种基于SiGe BiCMOS的宽带射频芯片静电保护电路,包括:集成衬底静电放电ESD二极管,其位于宽带射频输入输出端口,用于释放负向瞬态静电放电ESD脉冲事件发生时所产生的输入输出端口与接地端口之间的大电流;集成N阱静电放电ESD二极管,其位于宽带射频输入输出端口,用于释放正向瞬态静电放电ESD脉冲事件发生时所产生的输入输出端口与电源端口之间的大电流;其特征在于:所述的集成衬底静电放电ESD二极管,由1个或多个衬底静电防护ESD二极管组成,每个二极管的阴极阳极掺杂区及金属接触条均采用梯型叉指结构;二极管的外围填充有多晶硅材料,以对二极管自身进行隔离;所述的集成N阱静电放电ESD二极管,由1个或多个N阱静电防护ESD二极管组成,每个二极管的阴极阳极掺杂区及金属接触条均采用梯形叉指型结构;二极管的外围填充有多晶硅材料,以对二极管自身进行隔离,二极管的下方设有N型埋层和N型外延层,以减小二极管的寄生效应。
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