[发明专利]一种高密度混合叠层封装结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201310316422.5 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN103426871A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 陈靖;杨旭一;王立春;姚崇斌 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/538;H01L23/31;H01L21/98;H01L21/768
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200080 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种高密度混合叠层封装结构,其包括:封装基板载体,依次顺序堆叠在所述封装基板载体上的底层芯片、芯片插入层基板以及倒装芯片,以及堆叠在所述倒装芯片上的至少一层顶层芯片;其中所述芯片插入层基板表面通过薄膜布线与所述顶层芯片电连接;本发明还提供了一种高密度混合叠层封装结构的制作方法。本发明解决了尺寸差异较大芯片和不同互连方式芯片(引线键合方式和倒装方式)的混合叠层问题,本发明同时实现分部独立叠层加工与测试,即先在插入层基板上进行芯片叠层,再将该叠层体作为独立部分完成与底层芯片进行叠层,提高了高密度混合叠层封装的成品率。
搜索关键词: 一种 高密度 混合 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种高密度混合叠层封装结构,其特征在于,包括:封装基板载体,依次顺序堆叠在所述封装基板载体上的底层芯片、芯片插入层基板以及倒装芯片,以及堆叠在所述倒装芯片上的至少一层顶层芯片;其中所述芯片插入层基板表面通过薄膜布线与所述顶层芯片电连接。
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