[发明专利]一种使用保护性含钇涂层涂敷半导体设备的方法在审
申请号: | 201310323450.X | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN103436836A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 詹尼弗·Y·孙;赛恩·撒奇;吉姆·德姆普斯特;徐理;肯尼思·S·柯林斯;段仁官;托马斯·格瑞斯;贺小明;元洁 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | C23C4/10 | 分类号: | C23C4/10;C23C4/18;C23C16/44;C23C28/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张欣 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种使用保护性含钇涂层涂敷半导体设备的方法。根据本发明,公开一种将特化氧化钇陶瓷材料应用到半导体处理设备的方法,所述特化氧化钇陶瓷可耐含卤素等离子体的腐蚀性。所述特化氧化钇陶瓷材料的一些实施例的电阻率已被改性,以降低其在半导体处理室中出现电弧的几率。 | ||
搜索关键词: | 一种 使用 保护性 涂层 半导体设备 方法 | ||
【主权项】:
一种在用于半导体处理室内的物体表面提供喷涂陶瓷涂层的方法,所述喷涂陶瓷涂层表现出对含卤素等离子体的抗腐蚀性,并且表现出在1000V下测得的,大约为200℃下最大1011Ω·cm,50℃下最大1014Ω·cm的电阻率,从而降低等离子体在半导体处理室中出现电弧的几率,其中所述涂层是利用选自下列的技术来喷涂的:火焰喷涂、热喷涂、和等离子体喷涂,且其中所述涂层包含至少一种含钇固溶体,并且其中所述陶瓷涂层是由至少三种前驱体氧化物形成的,所述至少三种前驱体氧化物包括:含量从约40摩尔%至低于约100摩尔%的氧化钇、含量从约5摩尔%至约50摩尔%的氧化锆、和含量从约5摩尔%至高达约20摩尔%的氧化铪。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C4-00 熔融态覆层材料喷镀法,例如火焰喷镀法、等离子喷镀法或放电喷镀法的镀覆
C23C4-02 .待镀材料的预处理,例如为了在选定的表面区域镀覆
C23C4-04 .以镀覆材料为特征的
C23C4-12 .以喷镀方法为特征的
C23C4-18 .后处理
C23C4-14 ..用于长形材料的镀覆
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C4-00 熔融态覆层材料喷镀法,例如火焰喷镀法、等离子喷镀法或放电喷镀法的镀覆
C23C4-02 .待镀材料的预处理,例如为了在选定的表面区域镀覆
C23C4-04 .以镀覆材料为特征的
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C23C4-18 .后处理
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