[发明专利]一种使用保护性含钇涂层涂敷半导体设备的方法在审

专利信息
申请号: 201310323450.X 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN103436836A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 詹尼弗·Y·孙;赛恩·撒奇;吉姆·德姆普斯特;徐理;肯尼思·S·柯林斯;段仁官;托马斯·格瑞斯;贺小明;元洁 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: C23C4/10 分类号: C23C4/10;C23C4/18;C23C16/44;C23C28/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张欣
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种使用保护性含钇涂层涂敷半导体设备的方法。根据本发明,公开一种将特化氧化钇陶瓷材料应用到半导体处理设备的方法,所述特化氧化钇陶瓷可耐含卤素等离子体的腐蚀性。所述特化氧化钇陶瓷材料的一些实施例的电阻率已被改性,以降低其在半导体处理室中出现电弧的几率。
搜索关键词: 一种 使用 保护性 涂层 半导体设备 方法
【主权项】:
一种在用于半导体处理室内的物体表面提供喷涂陶瓷涂层的方法,所述喷涂陶瓷涂层表现出对含卤素等离子体的抗腐蚀性,并且表现出在1000V下测得的,大约为200℃下最大1011Ω·cm,50℃下最大1014Ω·cm的电阻率,从而降低等离子体在半导体处理室中出现电弧的几率,其中所述涂层是利用选自下列的技术来喷涂的:火焰喷涂、热喷涂、和等离子体喷涂,且其中所述涂层包含至少一种含钇固溶体,并且其中所述陶瓷涂层是由至少三种前驱体氧化物形成的,所述至少三种前驱体氧化物包括:含量从约40摩尔%至低于约100摩尔%的氧化钇、含量从约5摩尔%至约50摩尔%的氧化锆、和含量从约5摩尔%至高达约20摩尔%的氧化铪。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310323450.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top