[发明专利]分析设备验证系统和分析设备验证方法有效
| 申请号： | 201310329184.1 | 申请日： | 2013-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN103575856A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | 辻井贯也 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00;G01N30/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析设备验证系统和分析设备验证方法。在分析设备的验证中，在系统结构不标准或者验证所需的基准值不同于标准值的情况下，无法自动进行验证作业，从而需要时间和精力。对于作为验证对象的分析设备系统，首先，参数获取单元基于电子供给的合格性评价计划文档和电子供给的合格性评价实施过程手册来获取所述分析设备系统的合格性评价实施用参数。然后，验证执行单元使用获取到的合格性评价实施用参数来执行所述分析设备系统的验证。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 设备 验证 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种分析设备验证系统，用于执行分析设备系统的验证，所述分析设备验证系统包括：参数获取单元，用于从所述分析设备系统的电子供给的合格性评价计划文档和电子供给的合格性评价实施过程手册中获取所述分析设备系统的合格性评价实施用参数；以及验证执行单元，用于使用获取到的所述合格性评价实施用参数来执行所述分析设备系统的验证。
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