[发明专利]一种基于电位调控溶出伏安法的痕量金属离子检测方法无效

专利信息
申请号: 201310331495.1 申请日: 2013-08-02
公开(公告)号: CN103364477A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 孙建军;郑朝燕;陈珊 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01N27/48 分类号: G01N27/48
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种基于电位调控溶出伏安法的痕量金属离子检测方法,先用电化学方法将待测液中金属离子富集沉积到惰性工作电极表面;然后通过电位调控,在短时间内施加一适当电位,使干扰离子预先溶出;最后再用伏安法进行待测金属离子的溶出,并记录溶出伏安曲线。与常规的溶出伏安法相比,使用本发明方法对溶液中痕量金属离子进行检测时,检测限最低可以大幅度降低到1.0×10-9g/L级别。在连续测定时的重现性、稳定性及可靠性也可大大提高。该方法可以应用于海水、地表水、工业废水等水溶液,以及其它非水溶液物质(如食品、电子产品、有机物品等)经过消化后的水溶液中痕量金属离子含量的检测。
搜索关键词: 一种 基于 电位 调控 伏安 痕量 金属 离子 检测 方法
【主权项】:
一种基于电位调控溶出伏安法的痕量金属离子检测方法,其特征在于:先用电化学方法将待测液中金属离子富集沉积到惰性工作电极表面;然后通过电位调控,在短时间内施加一适当电位,使干扰离子预先溶出;最后再用伏安法进行待测金属离子的溶出,并记录溶出伏安曲线。
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