[发明专利]喷淋头以及气相沉积反应腔无效
申请号: | 201310347789.3 | 申请日: | 2013-08-09 |
公开(公告)号: | CN103436858A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 梁秉文 | 申请(专利权)人: | 光垒光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/452 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 200050 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭示了一种喷淋头,所述喷淋头用于向气相沉积的反应腔中气体反应区域输出反应气体,所述喷淋头至少包括第一源气体腔、冷却腔和离子化腔,所述第一源气体腔用于向所述气体反应区域输出第一源气体,所述离子化腔用于向所述气体反应区域输出离子化的第二源气体。本发明还提供一种包含上述喷淋头的气相沉积反应腔。本发明提供的喷淋头的所述离子化腔将所述第二源气体进行离子化,提高所述第二源气体的离子化效率,可以降低所述气体反应区域的温度,使得衬底的温度降低,从而提高气相沉积的效率、降低制造成本、提高LED芯片的良率。 | ||
搜索关键词: | 喷淋 以及 沉积 反应 | ||
【主权项】:
一种用于气相沉积的反应腔的喷淋头,所述反应腔包括气体反应区域,所述喷淋头邻近所述气体反应区域设置,所述喷淋头用于向所述气体反应区域输出反应气体,所述喷淋头至少包括第一源气体腔和冷却腔,所述第一源气体腔内通入第一源气体;其特征在于:所述喷淋头还包括一离子化腔,所述第一源气体腔设置在所述喷淋头背离所述气体反应区域的一侧,所述离子化腔设置在所述喷淋头面向所述气体反应区域的一侧,所述离子化腔内通入第二源气体,以对所述第二源气体进行离子化,所述离子化腔与所述气体反应区域之间设置有出气通道,所述离子化腔与所述气体反应区域之间通过所述出气通道连通,所述第一源气体腔至少与一第一气管连通,所述第一气管穿过所述冷却腔和离子化腔,并连通所述气体反应区域;其中,所述第二源气体的分解温度高于所述第一源气体的分解温度。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的