[发明专利]测量仪器线激光测头校准系统及方法在审
申请号: | 201310369879.2 | 申请日: | 2013-08-22 |
公开(公告)号: | CN104422399A | 公开(公告)日: | 2015-03-18 |
发明(设计)人: | 张滋;徐韦;陈斌;屈保锋 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种测量仪器线激光测头校准系统,包括:第一测量模块,用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测得第一标准件的轮廓数据;第一计算模块,用于计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值;第二测量模块,用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件的轮廓数据;第二计算模块,用于计算第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值;获取模块,用于根据倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据得到第一标准件的测量值;及第三计算模块,用于根据第一标准件的测量值与标准值计算精度补偿值。本发明还提供了一种测量仪器线激光测头校准方法。利用本发明,可以利用两个线激光测头准确测量待测物体。 | ||
搜索关键词: | 测量 仪器 激光 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种测量仪器线激光测头校准系统,运行于测量仪器中,其特征在于,该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头,所述系统包括:第一测量模块,用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据;第一计算模块,用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据,计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值;第二测量模块,用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量,并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据;第二计算模块,用于根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据,计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值;获取模块,用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准,根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据,并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值;及第三计算模块,用于根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。
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