[发明专利]一种芯片测试软件的开发方法和系统无效

专利信息
申请号: 201310390570.1 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN103440133A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 杨兵;王旭升;许集润;柴亮;王素娟;商迪;刘坤;孙军;管云峰;戴杨 申请(专利权)人: 上海高清数字科技产业有限公司
主分类号: G06F9/44 分类号: G06F9/44;G06F9/455;G06F11/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200125 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种IC测试软件开发的方法和系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试,其至少包括:主机,运行主机程序的若干计算机或网络终端;ATE仿真器,运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端;数据源:用于主机的程序的有效数据的任何载体,所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据;本发明通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块,网络通信模块,主机程序的方式,使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试,从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本;同时不需要芯片参与,能够更早启动芯片测试软件的开发,避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因,缩短芯片上市时间;同时,开发者有足够的开发和调试软件的时间,能够充分的保证软件的成功率。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 软件 开发 方法 系统
【主权项】:
一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试,其特征在于,其至少包括:主机,运行主机程序的若干计算机或网络终端,其包括网络编程调试模块;ATE仿真器,运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端;数据源:用于主机的程序的有效数据的任何载体,所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。
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