[发明专利]自动测试装置及其自动测试方法在审

专利信息
申请号: 201310401745.4 申请日: 2013-09-06
公开(公告)号: CN104166084A 公开(公告)日: 2014-11-26
发明(设计)人: 郑吉宏 申请(专利权)人: 力智电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中国商标专利事务所有限公司 11234 代理人: 宋义兴
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种自动测试装置,包括密闭光学模块及切换模块。光学模块具有光源及第一光源出口。切换模块具有反射板及第二光源出口。于可见光测试模式下,光源发出入射光,切换模块切换至第二光源出口的位置对应于第一光源出口,致使入射光通过第一光源出口与第二光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器,以得到第一感测结果。于不可见光测试模式下,光源关闭,切换模块切换至反射板的位置对应于光感测集成电路,致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器,以得到第二感测结果。
搜索关键词: 自动 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
一种自动测试装置,用以测试一光感测集成电路,上述光感测集成电路包括一可见光感测器及一不可见光感测器,其特征在于上述自动测试装置包括:一密闭光学模块,具有一光源及一第一光源出口;以及一切换模块,具有一反射板及一第二光源出口;其中,当上述自动测试装置以一可见光测试模式测试上述光感测集成电路时,上述光源发出一入射光,上述切换模块切换上述第二光源出口的位置对应于上述第一光源出口,致使上述入射光能通过上述第一光源出口与上述第二光源出口射至上述光感测集成电路的上述可见光感测器,以得到一第一感测结果;当上述自动测试装置以一不可见光测试模式测试上述光感测集成电路时,上述光源关闭,上述切换模块切换上述反射板的位置对应于上述光感测集成电路,致使上述光感测集成电路所发出的一红外光被上述反射板反射至上述光感测集成电路的上述不可见光感测器,以得到一第二感测结果。
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