[发明专利]用于定位光纤阵列的梯形槽的制作方法有效

专利信息
申请号: 201310417126.4 申请日: 2013-09-13
公开(公告)号: CN103472542A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 查强;孟繁春;杜卫星;苏晓华;胡炎彰;王睿;王红杰;钟飞 申请(专利权)人: 河南仕佳光子科技有限公司
主分类号: G02B6/36 分类号: G02B6/36
代理公司: 郑州中原专利事务所有限公司 41109 代理人: 范之敏
地址: 458030 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明提出一种用于定位光纤阵列的梯形槽的制作方法,包括以下步骤:1)在晶圆上进行硬掩膜的生长;2)在硬掩膜上涂覆光刻胶;3)利用光刻工艺,将用于定位光纤阵列的梯形槽的图形转移到光刻胶上;4)利用等离子刻蚀技术,将梯形槽的图形进一步转移到硬掩膜上;5)利用等离子刻蚀技术,在晶圆上刻蚀出梯形槽,该梯形槽的侧壁与晶圆上表面的交界处为光滑的弧形面;6)除去晶圆上残留的硬掩膜。本发明可以解决目前制作光纤阵列定位槽通用的湿法腐蚀、机械加工等方法带来的定位精度差、成本高以及成品率低等问题,并且可以有效提高光纤阵列的组装效率及可靠性。
搜索关键词: 用于 定位 光纤 阵列 梯形 制作方法
【主权项】:
一种用于定位光纤阵列的梯形槽的制作方法,其特征在于包括以下步骤:1)在晶圆(1)上进行硬掩膜(2)的生长;2)在所述硬掩膜(2)上涂覆光刻胶(3);3)利用光刻工艺,将光刻版(4)上用于定位光纤阵列(5)的梯形槽(6)的图形转移到所述光刻胶(3)上;4) 利用等离子刻蚀技术,将所述梯形槽(6)的图形进一步转移到所述硬掩膜(2)上;5)利用等离子刻蚀技术,在所述晶圆(1)上刻蚀出所述梯形槽(6),该梯形槽(6)的侧壁(7)与所述晶圆(1)的上表面(8)的交界处(9)为光滑的弧形面;    6)除去所述晶圆(1)上残留的硬掩膜(2)。
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