[发明专利]光学触控校正方法及光学触控面板有效
| 申请号： | 201310424336.6 | 申请日： | 2013-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN104423725B | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 吕帼闲;陈裕彦 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种光学触控校正方法及光学触控面板，光学触控校正方法用于光学触控面板其包含投射光源以及线性光感测器，光学触控校正方法包含下列步骤以投射光源产生投射光线，投射光线经反射至线性光感测器；利用线性光感测器量测反射后的投射光线，以得到相对于线性座标的反射强度曲线；计算反射强度曲线与基准强度曲线的强度差异；以及，若强度差异高于一阈值，调整投射光源的发射功率以进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 校正 方法 面板 | ||
【主权项】：
一种光学触控校正方法，用于一光学触控面板包含一投射光源以及一线性光感测器，该光学触控校正方法包含：以该投射光源产生一投射光线，该投射光线经反射至该线性光感测器；利用该线性光感测器量测反射后的该投射光线，以得到相对于线性座标的一反射强度曲线；计算量测到的该反射强度曲线与一基准强度曲线的一强度差异；以及若该强度差异高于一第一阈值，调整该投射光源的发射功率以进行校正，其中该反射强度曲线与该基准强度曲线的该强度差异，对应该光学触控面板上的一形变弯曲程度。
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