[发明专利]电磁线薄膜绕包的检测方法有效
申请号: | 201310433491.4 | 申请日: | 2013-09-22 |
公开(公告)号: | CN103512892A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 吴培培;穆平安;戴曙光 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/14 |
代理公司: | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人: | 脱颖 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 电磁线薄膜绕包的检测方法,利用两摄像机同时采集电磁线薄膜绕包图像,对采集的图像执行以下步骤:图像预处理,对图像平滑去噪;亚像素级边缘特征提取,对图像进行边缘特征提取,以得到边缘精确定位图像;图像立体匹配,通过基于边缘区域的Harris特征匹配算法,实现两图像的特征匹配;以及进行电磁线绕包间距与绕包率检测。该方法采用双目视觉获取两个图像,解决了单目视觉因绕包机高速旋转或震动而无法获取清晰图像从而无法完成检测的难题,实现了对绕包质量的非接触式、准确、自动化检测。 | ||
搜索关键词: | 电磁线 薄膜 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种电磁线薄膜绕包的检测方法,其特征在于,利用第一摄像机和第二摄像机同时采集电磁线薄膜绕包图像,并且对所述第一摄像机采集的第一图像和所述第二摄像机采集的第二图像执行以下步骤:图像预处理(S1),对所述第一图像和所述第二图像平滑去噪;亚像素级边缘特征提取(S2),对预处理后的所述第一图像和所述第二图像进行边缘特征提取,以得到所述第一图像和所述第二图像的边缘精确定位图像;图像立体匹配(S3),通过基于边缘区域的Harris特征匹配算法,实现所述第一图像和所述第二图像的特征匹配;以及进行电磁线绕包间距与绕包率检测(S4)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310433491.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。