[发明专利]一种集成电路芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310472506.8 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN104576646A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 刘磊;龚轶;刘伟;尹海洲 申请(专利权)人: 苏州东微半导体有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L21/8239
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 陆明耀;陈忠辉
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭示了一种集成电路芯片及其制造方法,包括一个半导体衬底;在所述半导体衬底上形成的半浮栅存储器阵列和非易失性存储器阵列;用于连接所述半浮栅存储器阵列和所述非易失性存储器阵列的第一输入输出端和第二输入输出端。本发明将半浮栅存储器阵列和非易失性存储器阵列集成在同一芯片上,将半浮栅存储器阵列作为非易失性存储器阵列的缓存,可以加快非易失性存储器阵列的存储速度,实现大容量、高速度的程式和数据存储与操作。
搜索关键词: 一种 集成电路 芯片 及其 制造 方法
【主权项】:
一种集成电路芯片,其特征在于,包括:一个半导体衬底;在所述半导体衬底上形成的半浮栅存储器阵列和非易失性存储器阵列;用于连接所述半浮栅存储器阵列和所述非易失性存储器阵列的第一输入输出端和第二输入输出端。
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