[发明专利]基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法

摘要

本发明涉及一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，属于无损检测技术领域。首先将永磁体置于标定薄板的表面，使用力传感器测定作用于永磁体上的静磁力的反作用力；其次将永磁体置于待测薄板的表面，再次使用力传感器测定永磁体受到的反作用力；将两个反作用力进行比较，若相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。本方法测量过程简单，检测成本相对较低，而且检测结果可靠；测量精度高，可探测到磁性薄板中微米级的微缺陷；检测速度高，可对薄板材料进行在线、快速、实时的检测。

主权项

一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，其特征在于该方法包括以下步骤：（1）将永磁体置于待测薄板的表面，永磁体的磁化方向垂直于薄板表面；（2）利用与待测薄板相同材料的标定薄板进行标定，标定方法为：使用力传感器测定作用于永磁体上静磁力F0的反作用力F0′；（3）对待测薄板内部缺陷进行测定，测定过程包括以下步骤：（3‑1）使用力传感器测定永磁体受到的反作用力F1′；（3‑2）将上述反作用力F1′和F0′进行比较，若F1′和F0′相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若F1′和F0′不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。