[发明专利]半导体封装结构与其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310499364.4 申请日: 2013-10-22
公开(公告)号: CN104576620A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 李志成;苏洹漳;田兴国 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/13;H01L21/50
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍
地址: 中国台湾高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装结构,包括一第一基板、一第二基板、一第一电子元件、一第二电子元件、一绝缘材料以及一布线结构。第一基板具有至少一第一贯孔与一第一上表面。第二基板具有一第二上表面,第二基板配置于第一基板之下。第一电子元件配置于至少一第一贯孔内。第二电子元件配置于第一上表面,且第二电子元件的厚度小于第一电子元件的厚度。绝缘材料配置于第一上表面上且环绕第一电子元件与第二电子元件。布线结构配置于绝缘材料上,其中布线结构包括一图案化导电层,且图案化导电层电性连接第一电子元件与第二电子元件。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 与其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装结构,其特征在于,包括:一第一基板,具有至少一第一贯孔与一第一上表面;一第二基板,具有一第二上表面,该第二基板配置于该第一基板之下;一第一电子元件,配置于该至少一第一贯孔内;一第二电子元件,配置于该第一上表面,且该第二电子元件的厚度小于该第一电子元件的厚度;一绝缘材料,配置于该第一上表面上且环绕该第一电子元件与该第二电子元件;以及一布线结构,配置于该绝缘材料上,其中该布线结构包括一图案化导电层,且该图案化导电层电性连接该第一电子元件与该第二电子元件。
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