[发明专利]补偿密度的方法和执行该方法的成像设备有效

专利信息
申请号: 201310507589.X 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN103777505B 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 朴殷锡;吴宗哲 申请(专利权)人: 爱思打印解决方案有限公司
主分类号: G03G15/16 分类号: G03G15/16;G03G15/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 代理人: 韩明星,鲁恭诚
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种补偿密度的方法和执行该方法的成像设备。根据本发明总体构思的成像设备包括转印单元,被构造为将形成在感光体上的图像转印到转印介质;电源单元,被构造为向转印单元提供转印功率;密度传感器单元,被构造为感测转印到转印介质的图像的密度;控制单元,被构造为控制电源单元以使得调整提供给转印单元的转印功率,其中,所述密度传感器单元被允许从用于感测形成在转印介质上的样本碎片的密度的第一位置移动到用于感测参考反射板的密度的第二位置,控制单元执行传感器补偿模式和密度补偿模式。
搜索关键词: 补偿 密度 方法 执行 成像 设备
【主权项】:
一种成像设备,包括:转印单元,被构造为将形成在感光体上的图像转印到转印介质;电源单元,被构造为向转印单元提供转印功率;密度传感器单元,被构造为感测转印到转印介质的图像的密度;参考反射板,与密度传感器单元分离,被构造为由密度传感器单元感测;和控制单元,被构造为控制电源单元,以使得调整提供给转印单元的转印功率,其中,所述密度传感器单元被允许从用于感测形成在转印介质上的样本碎片的密度的第一位置移动到用于感测参考反射板的密度的第二位置,控制单元执行根据由密度传感器单元在第二位置感测的参考反射板的密度来补偿密度传感器单元的感测值的传感器补偿模式,并执行根据由密度传感器单元在第一位置感测的样本碎片的密度来调整提供给转印单元的转印功率的密度补偿模式,以由此补偿转印到转印介质的图像的密度,其中,所述控制单元包括:传感器补偿单元,被构造为将由密度传感器单元在第二位置感测的参考反射板的密度与参考值进行比较并计算补偿变量;和密度补偿单元,被构造为通过将计算的补偿变量应用于由密度传感器单元在第一位置感测的样本碎片的密度来执行密度补偿。
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