[发明专利]一种横向功率器件漂移区的制造方法无效

专利信息
申请号: 201310525073.8 申请日: 2013-10-30
公开(公告)号: CN103545220A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 乔明;章文通;叶珂;祁娇娇;薛腾飞;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 李顺德;王睿
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种横向功率器件漂移区的制造方法。本发明所述的制造方法主要步骤为:在漂移区1上生长一层外延层,进行N型杂质和P型杂质注入,重复步骤a多次;通过退火处理,形成N型掺杂条22和P型掺杂条21;在N型掺杂条22和P型掺杂条21之间刻蚀介质槽3;对介质槽3进行介质填充;平坦化去除多余的介质。本发明的有益效果为,有利地弥补了传统掺杂和注入无法形成一定深度的PN掺杂条的不足,同时制造过程中可以通过控制介质槽的深宽比、漂移区长度和N(P)型条的掺杂剂量,以及漂移区的浓度来控制器件的耐压。本发明尤其适用于横向功率器件漂移区的制造。
搜索关键词: 一种 横向 功率 器件 漂移 制造 方法
【主权项】:
一种横向功率器件漂移区的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:a.在漂移区(1)上生长一层外延层,进行N型杂质和P型杂质注入,重复步骤a多次后进入步骤b;b.通过退火处理,形成N型掺杂条(22)和P型掺杂条(21);c.在N型掺杂条(22)和P型掺杂条(21)之间刻蚀介质槽(3);d.对介质槽(3)进行介质填充;e.平坦化去除多余的介质。
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