[发明专利]半导体装置

摘要

一种半导体装置，包括：输入缓冲器，被配置成缓冲经由数据输入/输出焊盘输入的数据；数据输入控制单元，被配置成响应于写入时钟而将输入缓冲器的输出传送至数据输入/输出线；测试循环控制单元，被配置成响应于测试模式信号而将数据输入/输出线的信号和测试锁存数据中之一输出；数据输出控制单元，被配置成响应于读取时钟而输出测试循环控制单元的输出；输出反相选择单元，被配置成通过将或不将数据输出控制单元的输出信号反相来输出数据输出控制单元的输出信号；以及输出缓冲器，被配置成缓冲输出反相选择单元的输出信号、并且将所得的信号输出至将数据输入/输出焊盘与输入缓冲器电耦接的节点。

主权项

1.一种半导体装置，包括：输入缓冲器，所述输入缓冲器被配置成接收和缓冲经由与数据输入/输出焊盘电耦接的节点而输入的数据；数据输入控制单元，所述数据输入控制单元被配置成响应于写入时钟而接收所述输入缓冲器的输出以及将所述输入缓冲器的输出传送至数据输入/输出线；测试循环控制单元，所述测试循环控制单元被配置成响应于测试模式信号而接收所述数据输入/输出线的信号和测试锁存数据以及将所述数据输入/输出线的信号和测试锁存数据中的一种输出；数据输出控制单元，所述数据输出控制单元被配置成响应于读取时钟而接收和输出所述测试循环控制单元的输出；输出反相选择单元，所述输出反相选择单元被配置成接收所述数据输出控制单元的输出信号以及通过将或不将所述数据输出控制单元的输出信号反相来输出所述数据输出控制单元的输出信号；以及输出缓冲器，所述输出缓冲器被配置成：接收和缓冲所述输出反相选择单元的输出信号，并且将所得的信号输出至将所述数据输入/输出焊盘与所述输入缓冲器电耦接的节点，其中，当所述测试循环控制单元输出所述数据输入/输出线的信号时，由所述输入缓冲器输入的数据经由所述数据输入控制单元、所述测试循环控制单元、所述数据输出控制单元以及所述输出反相选择单元而被传送至所述输出缓冲器。