[发明专利]基于双圆域的触摸屏采样优化方法

摘要

本发明公开一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法，应用于触摸屏的采样驱动模块中，其包括以下步骤：步骤1：首先根据硬件差异选择双圆的半径，包括内圆半径确认和外圆半径；步骤2：通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域，对不同区域内的采样点进行分类处理。本发明将平面域优化引入了触摸屏采样优化当中，使用双圆域对平面域进行分割，从而对实现了对采样数据的分类处理；使用正态分布确定圆域半径，使圆域半径确认更加合理，有效的区分了静态点击和拖拽动作。

主权项

1.一种基于双圆域的触摸屏采样优化方法，应用于触摸屏的采样驱动模块的驱动程序中，其包括以下步骤：步骤1：需要首先根据硬件差异选择双圆的半径，包括内圆半径r1确认和外圆半径r2确认；步骤2：通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域，对多个区域内的采样点进行分类处理，其处理过程包括：步骤2A：利用每次采样开始的n次数据确认触摸屏使用过程的初始圆心o(xo,yo)；步骤2B：令后续采样数据坐标为B(xb,yb)，计算其和初始化圆心o(xo,yo)的距离dob；步骤2C：根据dob和r1，r2的大小比较结果对B(xb,yb)采样值进行处理：若dob>r2，则判断B(xb,yb)为“飞点”，舍弃掉采样值；若r1<＝dob<＝r2，则判断B(xb,yb)点为正常拖动产生的点，则上报B(xb,yb)坐标，并选取B(xb,yb)点为新圆心；若dob<＝r1，则判断B(xb,yb)为固定点，上报o(xo,yo)点坐标，并仍选取o(xo,yo)为圆心；步骤2D：以新圆心为基准，重复步骤2B和步骤2C，直至一次触摸屏点击过程结束；所述内圆半径r1确认包括以下步骤：步骤1A：点击触摸屏某个点，采集n个点的位置数据，令第m个点的坐标的值表示为：m(xm,ym)；步骤1B：对采集到的n个点进行求平均运算，找到中心位置并计算各个点距离o点的距离d，第m个点m(xm,ym)到中心位置的距离表示为：步骤1C：计算各个点距离o点的平均距离步骤1D：计算得到内圆半径所述外圆半径r2确认包括以下步骤：外圆半径r2选择采样范围的1/8到1/4之间，令采样范围为(0～a)，则外圆半径r2的取值范围为(1/8a～1/4a)。