[发明专利]一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法

摘要

一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法。本发明提出了一种可以防止芯片正常应用时异常进入测试模式，从而导致芯片内数据被异常改写的新型测试控制电路。该电路通过测试使能信号控制测试电路的时钟信号和复位信号，在测试使能信号无效后，测试电路时钟信号被关闭同时测试电路复位信号保持低电平，使得测试电路无法启动，从而大大降低芯片异常进入测试模式的概率，降低了因异常进入测试模式导致芯片内数据被改写的几率，提高了芯片的健壮性。本发明具有很好的创新性、实用性和有效性。

主权项

一种提高芯片健壮性的新型测试电路，其特征在于包括复位控制电路、复位产生电路、时钟控制电路、测试使能控制电路，复位控制电路包括寄存器DFF3和寄存器DFF4，复位产生电路包括与门AND1，时钟控制电路包括寄存器DFF1和与门AND2，测试使能控制电路包括寄存器DFF2，其中：测试使能信号1通过放在划片槽中的fuse线与寄存器DFF2的Q端相连，DFF2的D端接高电平，DFF2置位端接上电复位信号2；信号1和信号2经过与门AND1产生复位信号3，用于复位DFF3、DFF4和DFF1；信号1接至寄存器DFF1D端，经过DFF1锁存后产生信号6，外部时钟和信号6经过与门AND2产生时钟信号信号4为测试电路和复位控制电路提供时钟；DFF1复位来自信号3；信号1同时接至寄存器DFF3D端，经过DFF3和DFF4锁存后产生信号5，用于测试电路复位，DFF3和DFF4时钟信号来自信号4，复位信号来自信号3。