[发明专利]测试电路和用于处理测试例程的方法有效
| 申请号： | 201310664182.8 | 申请日： | 2013-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103870389B | 公开（公告）日： | 2017-07-11 |
| 发明（设计）人： | B.默斯勒;A.奥斯特洛 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 王岳,马永利 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试电路和用于处理测试例程的方法。根据一个实施例，提供了一种测试电路，包括测试器，其被配置为执行包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程，其中，测试器包括检查器，所述检查器被配置为如果要执行多个测试命令中的测试命令则检查当前是否存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态，并且被配置为在其确定当前存在其中执行测试例程可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 用于 处理 例程 方法 | ||
【主权项】：
一种测试电路，包括：测试器，其被配置为执行包括用于测试电子电路的多个测试命令的测试例程，其中，测试器包括检查器，所述检查器被配置为针对要执行的多个测试命令中的每个在测试命令的每个执行之前检查当前是否存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态，并且被配置为在其确定当前存在其中执行测试命令可能导致电子电路的损坏的状态的情况下输出指示执行测试例程可能导致电子电路的损坏的信号。
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