[发明专利]测试装置及其操作方法有效
| 申请号： | 201310692317.1 | 申请日： | 2013-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN104239171B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 金基镐 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;李少丹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种测试装置包括：核心部，适用于容纳要测试的半导体器件；封装器数据寄存器，适用于存储用于测试半导体器件的数据；以及带宽控制器，适用于根据要测试的半导体器件来自适应地控制核心部和封装器数据寄存器之间的数据带宽。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包括：核心部，所述核心部适用于容纳要测试的半导体器件；封装器边界寄存器，所述封装器边界寄存器适用于执行所述半导体器件的并行测试操作；封装器数据寄存器，所述封装器数据寄存器适用于存储经由封装器串行输入信号传送并用于测试所述半导体器件的数据；以及带宽控制器，所述带宽控制器适用于根据要测试的所述半导体器件来自适应地控制所述核心部和所述封装器数据寄存器之间的数据带宽。
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