[发明专利]一种校验方法和装置

摘要

本发明实施例公开一种校验方法和装置，可减少对多个字节并行数据进行CRC计算需要的硬件资源。方法可包括通过芯片的数据总线获取并行数据，并行数据的报文长度为L个字节，数据总线的位宽为N个字节；判断L除以N得到的余数是否等于0；若L除以N得到的余数不等于0，在并行数据的头部添加P个字节的填充数据，得到新的并行数据，P等于N减去M，M为L除以N得到的余数的取值；根据L除以N得到的余数计算与位宽为N相对应的CRC电路的初始值，初始值使得用与位宽为N相对应的CRC电路和与位宽为M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后输出的结果相等；根据与位宽为N相对应的CRC电路的初始值对新的并行数据进行CRC计算。

主权项

一种校验方法，其特征在于，包括：通过芯片的数据总线获取并行数据，所述并行数据的报文长度为L个字节，所述数据总线的位宽为N个字节，所述L和所述N都为正整数；判断所述L除以所述N得到的余数是否等于0；若所述L除以所述N得到的余数不等于0，在所述并行数据的头部添加P个字节的填充数据，得到新的并行数据，所述P等于所述N减去M，所述M为所述L除以所述N得到的余数的取值；根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，所述初始值使得用与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后输出的结果相等；根据所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值对所述新的并行数据进行CRC计算；其中，所述根据所述L除以所述N得到的余数计算与位宽为所述N相对应的循环冗余校验CRC电路的初始值，包括：根据预置数据的每个比特信息和预置初始值获取与位宽为所述M相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；根据所述预置数据的每个比特信息和待定初始值获取与位宽为所述N相对应的CRC电路的每个比特的输出结果；在与位宽为所述N相对应的CRC电路和与位宽为所述M相对应的CRC电路分别进行CRC计算后每个比特的输出结果都相等的情况下，计算所述与位宽为所述M相对应的CRC电路的预置初始值、所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的待定初始值组成的方程组，求解出所述待定初始值，所述待定初始值即为所述与位宽为所述N相对应的CRC电路的初始值。