[发明专利]一种厚度检测治具以及厚度检测方法在审
申请号: | 201310722713.4 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103673831A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 李丽丽;曹保桂;金致荣;杨溢;纪月荣 | 申请(专利权)人: | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06;G01B5/28 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李迪 |
地址: | 230012 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种厚度检测治具,包括底座和至少一个检测块,检测块垂直设置在底座的上方,其中检测块的上端通过支撑架固定,下端可活动,且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式,将检测块设置为可活动的结构,当待检测产品从检测块和底座之间经过时,如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度,否则没有超过预设厚度。该厚度检测治具结构简单,使用方便,不仅能根据检测块的偏移情况确定待检测产品的厚度和平坦度,并进一步确定厚度范围,还能避免检测过程对待检测产品表面上造成的损伤,为非破坏性检测,保证产品质量。另外还提供了一种基于上述厚度检测治具的厚度检测方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 厚度 检测 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种厚度检测治具,其特征在于,包括底座和至少一个检测块,检测块垂直设置在底座的上方,其中检测块的上端通过支撑架固定,下端可活动,且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。
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