[实用新型]一种显示屏不良点采集装置及显示屏短接测试系统有效
| 申请号： | 201320145387.0 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN203134320U | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 李明;金用燮;刘晓涛;穆慧慧 | 申请（专利权）人： | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 230011 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及显示屏检测技术领域，公开了一种显示屏不良点采集装置，包括：支撑待测显示屏的基台；安装于基台、且与基台的支撑面平行设置的导轨，导轨可在平行于基台的支撑面的一个平面内运动；可沿导轨长度方向移动、采集待测显示屏上不良点信息的激光对位模块；与激光对位模块信号连接、将接收到的不良点信息生成具体坐标值的坐标处理模块。上述显示屏不良点采集装置，可以将采集到的待测显示屏上不良点的信息生成具体坐标值。本实用新型还提供了一种显示屏短接测试系统，可以降低显示屏的废弃率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示屏 不良 采集 装置 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种显示屏不良点采集装置，其特征在于，包括：支撑待测显示屏的基台；安装于所述基台、且与所述基台的支撑面平行设置的导轨，所述导轨可在平行于所述基台的支撑面的一个平面内运动；可沿所述导轨长度方向移动、采集所述待测显示屏上不良点信息的激光对位模块；与所述激光对位模块信号连接、将接收到的所述不良点信息生成具体坐标值的坐标处理模块。
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