[实用新型]ATP荧光快速检测仪全避光检测装置有效

专利信息
申请号: 201320194690.X 申请日: 2013-04-17
公开(公告)号: CN203222589U 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 倪树标;张冠文;陈云;陈江韩;刘日威;黎国标 申请(专利权)人: 中国广州分析测试中心
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34;C12R1/01
代理公司: 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 代理人: 黄培智
地址: 510070 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种ATP荧光快速检测仪全避光检测装置,包括有相互连接的光电检测器和检测室,在检测室上连接检测室盖;所述检测室内设有检测通道,所述检测通道的垂直截面为L型,检测通道顶端开有放样孔,底端右侧开有通光孔,检测室顶端设有第一挡光壁,第一挡光壁处于放样孔的外沿上方,在通光孔外的检测室表面上设有第二挡光壁,所述光电检测器连接在第二挡光壁所在的检测室侧面上,通光孔与所述光电检测器内相通;检测室盖底面设有第三挡光壁,其与所述第一挡光壁相匹配,在检测室盖旁侧设有固定转轴孔,前端设开启凹槽。由于检测室与检测盖分离,这样不仅简化了结构,而且方便了仪器的安装。
搜索关键词: atp 荧光 快速 检测 避光 装置
【主权项】:
ATP荧光快速检测仪全避光检测装置,包括有相互连接的光电检测器(3)和检测室(2),在检测室(2)上连接检测室盖(4),;其特征在于:所述检测室(2)内设有检测通道(21),所述检测通道(21)的垂直截面为L型,检测通道(21)顶端开有放样孔(211),底端右侧开有通光孔(212),检测室(2)顶端设有第一挡光壁(22),第一挡光壁(22)处于放样孔(211)的外沿上方,在通光孔(212)外的检测室(2)表面上设有第二挡光壁(24),所述光电检测器(3)连接在第二挡光壁(24)所在的检测室(2)侧面上,通光孔(212)与所述光电检测器(3)内相通;检测室盖(4)底面设有第三挡光壁(41),其与所述第一挡光壁(22)相匹配,在检测室盖(4)旁侧设有固定转轴孔(42),前端设开启凹槽(43)。
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