[实用新型]用于测试元器件老化的通断控制器有效
| 申请号： | 201320231520.4 | 申请日： | 2013-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN203191731U | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 南式荣;李高亚 | 申请（专利权）人： | 南京萨特科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04 |
| 代理公司： | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 210049 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于测试元器件老化的通断控制器，包括交流电源、时间继电器、计数继电器及电磁继电器组成，依次连接成控制器回路，组装成一个完整的控制器，控制器再和测试回路连接，自动设置通断时间以及循环次数。本实用新型结构简单，性能稳定，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 元器件 老化 控制器 | ||
【主权项】：
一种用于测试元器件老化的通断控制器，包括交流电源（10）、时间继电器（11）、计数继电器（12）及电磁继电器（13）组成，其特征在于：所述的交流电源（10）与所述的时间继电器（11）的一个端口（111）连接，端口（111与端口（110）相连通，所述端口（110）与所述的计数继电器（12）的一个端口（121）连接，端口（121）与端口（120）连接，端口（120）与所述的电磁继电器（13）的一个端口（132）连接，所述的电磁继电器（13）的另一个端口（131）与所述的交流电源（10）连接，形成控制回路。
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