[实用新型]一种功率MOSFET的沟槽终端结构有效
申请号: | 201320254969.2 | 申请日: | 2013-05-13 |
公开(公告)号: | CN203260588U | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 王新 | 申请(专利权)人: | 成都瑞芯电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/10 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 梁田 |
地址: | 610000 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种功率MOSFET的沟槽终端结构,包括衬底和位于衬底上的外延层,包括如下全部特征:所述外延层上具有第一沟槽和第二沟槽;在沟槽内有栅氧化层;所述第一沟槽内部有多晶硅形成的栅电极;所述第二沟槽内部有多晶硅形成的悬浮场板;在第一沟槽和第二沟槽之间以及第一沟槽靠芯片边界一侧具有体区;在第一沟槽靠芯片边界一侧的体区上面还有源区;在硅片表面还具备隔离氧化层,在隔离氧化层上有与源区形成良好欧姆接触的源级接触结构。本实用新型以较小的占用面积提高了硅片终端部分的击穿电压,并降低了硅片终端结构的设计难度。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 mosfet 沟槽 终端 结构 | ||
【主权项】:
一种功率MOSFET的沟槽终端结构,包括衬底(21)和位于衬底上的外延层(22),包括如下全部特征:所述外延层(22)上具有第一沟槽(18)和第二沟槽(19);在沟槽内有栅氧化层(23a);所述第一沟槽内部有多晶硅形成的栅电极(24a);所述第二沟槽内部有多晶硅形成的悬浮场板(24b);在第一沟槽(18)和第二沟槽(19)之间以及第一沟槽靠芯片边界(17)一侧具有体区(25);在第一沟槽靠芯片边界一侧的体区上面还有源区(27);在硅片表面还具备隔离氧化层(29),在隔离氧化层上有与源区形成良好欧姆接触的源级接触结构。
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