[实用新型]用于晶体管电流及电压测试的测试设备有效
| 申请号： | 201320307143.8 | 申请日： | 2013-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN203275497U | 公开（公告）日： | 2013-11-06 |
| 发明（设计）人： | 张玉军 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备，其中，所述测试设备包括：光源本体；用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置，所述图像采集装置包括图像采集镜头；位置可调节的探针，对所述待测位置进行电流及电压测试时，所述探针位于所述待测位置处；用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计，所述分光计连接有出光光纤，所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。所述测试设备能够实现薄膜晶体管TFT在单色、单波段光线照射下的光电流测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 晶体管 电流 电压 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种用于晶体管电流及电压测试的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：光源本体；用于利用所述光源本体所发出光线获取待测位置的图像采集装置，所述图像采集装置包括图像采集镜头；位置可调节的探针，对所述待测位置进行电流及电压测试时，所述探针位于所述待测位置处；用于生成单波段光线来照射所述探针以进行晶体管电流及电压测试的分光计，所述分光计连接有出光光纤，所述出光光纤的光纤镜头与所述图像采集镜头保持固定距离。
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