[实用新型]一种基于LXI总线的数字测试装置有效
| 申请号： | 201320359842.7 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN203313210U | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 郭敏敏;梅敏鹏;白雪;张红兵 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 朱小兵 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于LXI总线的数字测试装置，属于数据域测试的技术领域，包括控制模块、触发模块、DDS模块、FPGA模块、SRAM存储器、驱动器、设备连接端，其中控制模块、触发模块、DDS模块分别与FPGA模块相连；所述FPGA模块与SRAM存储器相连；所述SRAM存储器与驱动器、设备连接端依次相连；所述设备连接端与外部被测设备连接。所述控制模块包括控制终端和LXI接口电路，所述控制终端与LXI接口电路相连；所述LXI接口电路与FPGA模块相连。本装置基于LXI总线，为被测设备内的数字系统性能测试、现场调试、故障诊断提供有价值的试验依据，可以利用LXI总线提供的硬件触发线进行同步，使该装置通用性和扩展性强，具有使用简单，易于模块化、通用化和灵活化等的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 lxi 总线 数字 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种基于LXI总线的数字测试装置，其特征在于：包括控制模块、触发模块、DDS模块、FPGA模块、SRAM存储器、驱动器、设备连接端，其中控制模块、触发模块、DDS模块分别与FPGA模块相连；所述FPGA模块与SRAM存储器相连；所述SRAM存储器与驱动器、设备连接端依次相连；所述设备连接端与外部被测设备连接。
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