[实用新型]IC测试座有效
| 申请号： | 201320409811.8 | 申请日： | 2013-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN203365478U | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 曾强 | 申请（专利权）人： | 曾强 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 高之波;邬玥 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC测试座，包括测试架和连接件，该测试架上设有凹槽，连接件位于凹槽的下方，连接件包括导电柱和绝缘骨架，该导电柱和绝缘骨架为一体成型结构。本实用新型IC测试架具有成本低、组装方便、装配效率高、测量精确度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | ic 测试 | ||
【主权项】：
IC测试座，其特征在于，包括测试架（1）和连接件（2），所述测试架（1）上设有凹槽（12），所述连接件（2）位于凹槽（12）的下方，所述连接件（2）包括导电柱（21）和绝缘骨架（22），所述导电柱（21）分布在绝缘骨架（22）上，所述导电柱（21）和绝缘骨架（22）为一体成型结构。
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