[实用新型]转接式IC芯片测试装置有效
| 申请号： | 201320506379.4 | 申请日： | 2013-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN203455450U | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 周澄良 | 申请（专利权）人： | 合吉利电子科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市盈方知识产权事务所(普通合伙) 44303 | 代理人： | 杨贤 |
| 地址： | 518117 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种转接式IC芯片测试装置，包括设有至少一个测试单元的主基板，每个测试单元包括有设于所述主基板表面的测试线路、设于所述主基板正面的用于固定待测试芯片的工作台、和设于所述主基板背面的测试芯片，每个测试单元还包括有测试基板，所述测试芯片设于所述测试基板上，且每个测试基板上设有一组插接脚，而在所述主基板的背面上设有对应的至少一组插接槽，所述测试芯片与所述主基板通过所述插接脚和对应的插接槽可插拔地连接。本实用新型可方便地更换测试芯片，有效解决了由于测试芯片损坏导致整个测试单元报废的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 转接 ic 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种转接式IC芯片测试装置，包括设有至少一个测试单元的主基板，每个测试单元包括有设于所述主基板表面的测试线路、设于所述主基板正面的用于固定待测试芯片的工作台、和设于所述主基板背面的测试芯片，其特征在于：每个测试单元还包括有测试基板，所述测试芯片设于所述测试基板上，且每个测试基板上设有一组插接脚，而在所述主基板的背面上设有对应的至少一组插接槽，所述测试芯片与所述主基板通过所述插接脚和对应的插接槽可插拔地连接。
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