[实用新型]晶圆清洗装置有效

专利信息
申请号: 201320523787.0 申请日: 2013-08-26
公开(公告)号: CN203437362U 公开(公告)日: 2014-02-19
发明(设计)人: 唐强 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: B08B3/02 分类号: B08B3/02;B08B13/00;H01L21/67
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 100176 北京市大兴*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种晶圆清洗装置,所述晶圆清洗装置至少包括:清洗容器,具有一晶圆输入口和晶圆输出口;用于传送晶圆的传送装置,设置于所述清洗容器中;用于承载晶圆的至少一个托盘,设置于所述传送装置上;用于清洗晶圆的至少一个清洗槽,设置于所述清洗容器中,所述每一个清洗槽均具有一入口门和一出口门,晶圆在所述传送装置的传送下到达每一个清洗槽并进行清洗。一方面,在清洗容器的内部设置具有入口门和出口门的清洗槽,使晶圆清洗的环境更加封闭,降低晶圆表面受空气污染的程度,提高晶圆良率;另一方面,使用传送装置来传送晶圆到达清洗槽,不需要机械臂在清洗过程中一直夹持着晶圆,降低机械臂夹持晶圆不稳定导致晶圆破片掉片的几率。
搜索关键词: 清洗 装置
【主权项】:
一种晶圆清洗装置,用于清洗化学机械抛光后的晶圆,其特征在于,所述晶圆清洗装置至少包括:清洗容器,具有一晶圆输入口和晶圆输出口;用于传送晶圆的传送装置,设置于所述清洗容器中;用于承载晶圆的至少一个托盘,设置于所述传送装置上;用于清洗晶圆的至少一个清洗槽,设置于所述清洗容器中,所述每一个清洗槽均具有一入口门和一出口门,晶圆在所述传送装置的传送下到达每一个清洗槽并进行清洗。
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