[实用新型]半导体承载装置的弹性限位结构有效
申请号: | 201320636256.2 | 申请日: | 2013-10-15 |
公开(公告)号: | CN203562414U | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 罗郁南 | 申请(专利权)人: | 昆山晨州塑胶有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/673 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体承载装置的弹性限位结构,其主要是在半导体承载装置的围壁上成形多个沿围壁延伸成形的挡块,各该挡块具有一与该围壁连接的连接段及一与该连接段邻接且沿该围壁延伸方向成形的抵制段,各该挡块具有相对的一顶面及一底面,该顶面与该底面之间具有一自该底面朝该顶面收束的斜面连接,令各该挡块的该底面宽幅大于该顶面宽幅,藉此,挡块形成固定端与弹性末端位于同一水平面上的弹性限位结构,以令挡块末端失去弹性复位能力时,仍能藉由固定端做为抵制半导体元件的结构,达到提供半导体元件确实定位的目的。 | ||
搜索关键词: | 半导体 承载 装置 弹性 限位 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体承载装置的弹性限位结构,是一承载装置具有纵横排列的多个围壁,以及由该多个围壁共同围设成形的多个矩阵排列凹槽,该弹性限位结构是成形于该围壁上并位于各该凹槽内;其特征在于:所述各凹槽的该弹性限位结构包括: 多个挡块,各所述挡块具有一与该围壁连接的连接段及一与所述连接段邻接且沿该围壁延伸方向成形的抵制段,各所述挡块具有相对的一顶面及一底面,所述顶面与所述底面之间具有一自该底面朝所述顶面收束的斜面连接,令各所述挡块的该底面宽幅大于所述顶面宽幅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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