[实用新型]一种测试芯片供电电源可靠性的装置有效
| 申请号： | 201320642340.5 | 申请日： | 2013-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN203519804U | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 洪献珍 | 申请（专利权）人： | 迈普通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R31/26 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人： | 李顺德 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及可靠性检测技术。本实用新型公开了一种测试芯片供电电源可靠性的装置，可以方便的测试每个芯片供电电源的可靠性，找出芯片供电的薄弱环节。本实用新型的技术方案是，一种测试芯片供电电源可靠性的装置，所述装置串接在芯片供电回路上，其特征在于，所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一触点、用于连接供电电源的第二触点、用于降低电压的衰减器，所述衰减器安装在基板上，其引脚分别与第一触点和第二触点电连接。本实用新型的有益效果是，能够单独对每个芯片供电电源进行电源可靠性测试，找出芯片供电电源的薄弱点。可以定量的验证系统对电压波动的敏感性，保证系统的整体的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 供电 电源 可靠性 装置 | ||
【主权项】：
一种测试芯片供电电源可靠性的装置，所述装置串接在芯片供电回路上，其特征在于，所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一触点、用于连接供电电源的第二触点、用于降低电压的衰减器，所述衰减器安装在基板上，其引脚分别与第一触点和第二触点电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于迈普通信技术股份有限公司，未经迈普通信技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320642340.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种抗干扰的高性能定时器
- 下一篇：汽车电磁减速器
