[发明专利]光学装置的测试有效
| 申请号： | 201380001506.8 | 申请日： | 2013-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN103842790A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 哈特穆特·拉德曼;马蒂亚斯·葛鲁尔 | 申请（专利权）人： | 赫普塔冈微光有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国;吴启超 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本公开内容描述用于测试光学装置的技术，该技术在一些实施方式中用模拟在将光学装置整合至最终产品或系统中时这些装置将被使用的环境的方式测试这些光学装置。例如，一方面包含用模拟在将该光学装置并入该最终产品或系统中时的环境的至少一些方面的方式提供定位于该装置附近的透明片。例如，能在生产这些光学装置时或在将这些光学装置整合至最终产品或系统中之前的某一其他时间进行该测试。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 测试 | ||
【主权项】：
一种测试光学装置的自动方法，所述方法包括：将所述光学装置放置在透明片上或放置成靠近透明片；使所述光学装置发射光透过所述透明片；在所述光学装置发射所述光之后在处理单元中分析所述光学装置的响应；及在所述处理单元中至少部分基于分析所述光学装置的所述响应而确定所述光学装置是否通过测试。
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