[发明专利]判定方法、判定装置、判定系统及程序有效
申请号: | 201380012447.4 | 申请日: | 2013-03-05 |
公开(公告)号: | CN104160265A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 薙野邦久;佐佐本裕方;铃江茂 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N33/53;G01N37/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;田欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明所要解决的课题是提供一种在将载体中的检测强度图像化而得到的图像数据中确定斑点的位置,提取与该斑点对应的像素群,算出提取出的像素群中的检测强度的中位数值、与从该像素群中除去了上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的检测强度的中位数值的比或差,基于算出的比或差、和规定的基准值,判定可靠性的好坏。 | ||
搜索关键词: | 判定 方法 装置 系统 程序 | ||
【主权项】:
一种判定方法,其特征在于,是对通过被标记了的被检查物质与载体上作为斑点被固定化了的选择结合性物质结合而作为标记的检测强度获得的、所述被检查物质的选择性结合量的可靠性进行判定的判定方法,其包括下述步骤:像素群提取步骤,在将所述载体中的所述检测强度图像化而得到的图像数据中确定所述斑点的位置,提取与该斑点对应的像素群,中位数算出步骤,算出在所述像素群提取步骤中提取出的所述像素群中的所述检测强度的中位数值、与从该像素群中除去上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值的比或差,可靠性判定步骤,基于在所述中位数算出步骤中算出的所述比或所述差、和规定的基准值,判定所述可靠性的好坏。
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