[发明专利]ESD测试检查装置和ESD测试检查方法有效
申请号: | 201380018537.4 | 申请日: | 2013-03-18 |
公开(公告)号: | CN104204827B | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 内田练;坂口英明 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明要解决的技术问题是在ESD测试的高电压符合检查和高电压通电检查中迅速并且准确地进行ESD测试检查。作为ESD测试检查装置(1),具有用于对一个或多个检查对象器件进行检查ESD耐性的ESD施加测试的ESD测试装置(10);和用于诊断ESD施加电压波形的符合与否的诊断电路(5)。诊断电路(5)具有连接在该ESD测试装置(10)的高电压输出端(探针(11))间的可变电阻(2)与分压电阻(3)的串联电路;和连接在该分压电阻(3)的两端间的作为发光单元的发光检验用LED(4)。 | ||
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【主权项】:
一种ESD测试检查装置,其特征在于:在对一个或多个检查对象器件分别施加高电压以一并检查ESD耐性的ESD测试装置的各高电压输出端间连接有诊断单元,利用该诊断单元,能够诊断是否已从该ESD测试装置施加了各高电压或者该各高电压是否符合规定的高电压值,所述诊断单元具有:连接在所述ESD测试装置的各高电压输出端间的可变电阻与分压电阻的串联电路;和在该分压电阻的两端间正向连接的发光单元,利用所述诊断单元进行的诊断,根据所述发光单元的发光的有无来进行,在所述诊断时,将所述高电压的放电周期重复规定期间,使得利用残像效果使所述发光可视化,由此使所述发光单元的发光连续,使用所述ESD测试装置的高电压电源和输出其以外的各高电压的多个ESD电路,对每个该ESD电路连接有所述诊断单元,在具有多个所述ESD电路的情况下,至少所述发光单元在电路基板上排列有多个,所述电路基板的一个连接单元与连接在所述ESD电路的高电压输出端间的另一个连接单元连接,对每个该ESD电路连接有所述发光单元,所述电路基板的一个连接单元是凸销插口,连接在所述ESD电路的高电压输出端间的另一个连接单元是凹销插口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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