[发明专利]ESD测试检查装置和ESD测试检查方法有效

专利信息
申请号: 201380018537.4 申请日: 2013-03-18
公开(公告)号: CN104204827B 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 内田练;坂口英明 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明要解决的技术问题是在ESD测试的高电压符合检查和高电压通电检查中迅速并且准确地进行ESD测试检查。作为ESD测试检查装置(1),具有用于对一个或多个检查对象器件进行检查ESD耐性的ESD施加测试的ESD测试装置(10);和用于诊断ESD施加电压波形的符合与否的诊断电路(5)。诊断电路(5)具有连接在该ESD测试装置(10)的高电压输出端(探针(11))间的可变电阻(2)与分压电阻(3)的串联电路;和连接在该分压电阻(3)的两端间的作为发光单元的发光检验用LED(4)。
搜索关键词: esd 测试 检查 装置 方法
【主权项】:
一种ESD测试检查装置,其特征在于:在对一个或多个检查对象器件分别施加高电压以一并检查ESD耐性的ESD测试装置的各高电压输出端间连接有诊断单元,利用该诊断单元,能够诊断是否已从该ESD测试装置施加了各高电压或者该各高电压是否符合规定的高电压值,所述诊断单元具有:连接在所述ESD测试装置的各高电压输出端间的可变电阻与分压电阻的串联电路;和在该分压电阻的两端间正向连接的发光单元,利用所述诊断单元进行的诊断,根据所述发光单元的发光的有无来进行,在所述诊断时,将所述高电压的放电周期重复规定期间,使得利用残像效果使所述发光可视化,由此使所述发光单元的发光连续,使用所述ESD测试装置的高电压电源和输出其以外的各高电压的多个ESD电路,对每个该ESD电路连接有所述诊断单元,在具有多个所述ESD电路的情况下,至少所述发光单元在电路基板上排列有多个,所述电路基板的一个连接单元与连接在所述ESD电路的高电压输出端间的另一个连接单元连接,对每个该ESD电路连接有所述发光单元,所述电路基板的一个连接单元是凸销插口,连接在所述ESD电路的高电压输出端间的另一个连接单元是凹销插口。
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