[发明专利]缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法有效
申请号: | 201380023962.2 | 申请日: | 2013-06-07 |
公开(公告)号: | CN104272094B | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 杉本喜一;藤富阳介;富田刚;木屋敦词;高野晓巳;竹田英哲 | 申请(专利权)人: | 三菱重工业株式会社 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 雒运朴 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法。图像处理装置(20)根据由对透过了作为被检查对象物的产品的放射线进行检测的放射线摄像装置得到的检测图像数据,判定产品有无缺陷。图像处理装置(20)基于由预先存储在DB存储部(36)中的特征数据所表示的产品特征的形状,确定检测图像数据中的产品特征的位置,将已确定的检测图像数据中的产品特征作为基准来提取候补缺陷,并基于由预先存储在DB存储部(36)中的缺陷特性DB所表示的产品缺陷的特性量和候补缺陷的特性量,判定产品有无缺陷。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 判定 装置 放射线 摄像 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种缺陷判定装置,根据由对透过了被检查对象物的放射线进行检测的放射线摄像装置得到的检测图像数据,判定所述被检查对象物有无缺陷,该缺陷判定装置具备:特征位置确定单元,将由预先存储在存储单元中的特征数据所表示的所述被检查对象物的特征部位的形状,与所述检测图像数据进行对照,确定所述检测图像数据中的所述特征部位的位置;和缺陷判定单元,从在所述检测图像数据中遮蔽所述特征位置确定单元确定出的所述检测图像数据中的所述特征部位而得到的遮蔽后的检测图像数据之中,提取候补缺陷,并基于由预先存储在存储单元中的缺陷特性数据所表示的缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量,判定所述被检查对象物有无缺陷。
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