[发明专利]可重新配置的检测器系统有效
| 申请号： | 201380024627.4 | 申请日： | 2013-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN104335031B | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | M·萨法伊 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/203 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于使用反向散射检查系统检查物体的方法和装置。在一个示例性实施例中，该装置包含辐射源、瞄准仪和检测器系统。辐射源经配置发出辐射。瞄准仪经配置使用由辐射源发出的辐射的一部分形成射束。该射束指向物体的表面。检测器系统经配置检测响应射束遇到物体所形成的反向散射。检测器系统的形状经配置变成选定的形状。 | ||
| 搜索关键词： | 重新 配置 检测器 系统 | ||
【主权项】：
一种装置，其包含：辐射源(118)，其经配置发出辐射(122)；瞄准仪(120)，其经配置使用由所述辐射源(118)发出的所述辐射(122)的一部分形成射束(134)，其中所述射束(134)指向物体(104)的表面(126)，其中所述物体的所述表面包括大体非平面的表面形状；检测器系统(114)，其经配置检测响应所述射束(134)遇到所述物体(104)所形成的反向散射(136)，其中所述检测器系统(114)的形状(138)经配置使用所述检测器系统(114)中的结构(144)从所述检测器系统(114)的第一形状改变成所述检测器系统(114)的第二形状，其中所述检测器系统(114)的所述第二形状大体符合所述物体(104)的所述大体非平面的表面形状，其中所述检测器系统(114)的所述第一形状和所述检测器系统(114)的所述第二形状是不同的，并且其中所述检测器系统(114)的所述第二形状是所述检测器系统(114)的选定形状(140)，其中所述检测器系统(114)包括若干传感器(148)，所述若干传感器(148)与所述结构(144)关联并且被配置成检测所述反向散射(136)；机电系统，其被配置为随着可移动平台(110)相对于所述物体(104)移动而反复重新配置所述结构(144)；并且其中：所述可移动平台(110)与所述检测器系统(114)关联；所述机电系统使用来自所述若干传感器(148)的数据而反复重新配置所述结构(144)；并且所述机电系统反复重新配置所述结构(144)使得所述检测器系统(114)的所述形状改变成大体符合所述物体(104)的所述大体非平面的表面形状。
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