[发明专利]用于存储器设备的上电检测系统有效
| 申请号： | 201380025484.9 | 申请日： | 2013-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN104303235A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 史蒂文·史密斯 | 申请（专利权）人： | 赛登斯公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C17/16;G11C17/18 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈炜;李德山 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 公开了一种用于存储器设备的上电检测方法和一种存储器设备。在第一阶段，从存储器设备的存储器阵列的只读存储器(ROM)行读取测试字，并且将测试字与预定ROM行数据比较。如果测试字与预定ROM行数据匹配，则可以进行第二阶段。在第二阶段，在第一时间从存储器阵列的用户编程行读取第一用户数据。在不同于第一时间的第二时间从存储器阵列的用户编程行读取第二用户数据。将第一用户数据与第二用户数据比较。在第一用户数据与第二用户数据匹配时，确定对存储器设备的上电成功。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 设备 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种用于存储器设备的上电检测方法，所述方法包括：a)从所述存储器设备的存储器阵列的只读存储器(ROM)行读取测试字；b)将所述测试字与预定ROM行数据比较；c)如果所述测试字与所述预定ROM行数据匹配，则：c.1)在第一时间从所述存储器阵列的用户编程行读取第一用户数据；c.2)在不同于所述第一时间的第二时间从所述存储器阵列的所述用户编程行读取第二用户数据；以及c.3)将所述第一用户数据与所述第二用户数据比较，其中，在所述第一用户数据与所述第二用户数据匹配时，检测到对所述存储器设备的上电。
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