[发明专利]用于检查算法和过滤器的视觉反馈在审
申请号: | 201380031064.1 | 申请日: | 2013-05-07 |
公开(公告)号: | CN104364889A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 李虎成;黄军秦;高理升 | 申请(专利权)人: | 科磊股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明针对给用于处理来自检查系统的测试和参考图像的检查算法和差分过滤器提供视觉反馈。用户接口可经配置以显示信息和接受用户命令。通信地耦合到所述用户接口的计算系统可经配置以接收由所述检查系统收集的至少一组测试和参考图像。所述计算系统可经进一步配置以经由所述用户接口而提供所述测试和参考图像的至少一个视觉表示以展示检查算法和/或差分过滤器的效应。 | ||
搜索关键词: | 用于 检查 算法 过滤器 视觉 反馈 | ||
【主权项】:
一种用于处理至少一组样品图像的系统,其包括:用户接口,其经配置以显示信息和接受用户命令;以及计算系统,其通信地耦合到所述用户接口,所述计算系统经配置以:接收至少一组样品图像;利用所选差分过滤器和所选检查算法中的至少一者来处理所述至少一组样品图像;以及经由所述用户接口而提供所述至少一组样品图像的至少一个视觉表示,所述至少一个视觉表示包含以下中的至少一者:带正负号的差分图像,其在所述差分图像的像素处具有用于识别所述至少一个样品的至少一个缺陷的极性的值,原始差分图像和经过滤差分图像的并列视图,光标,其经配置以选择与所述至少一个样品的至少一个缺陷相关联的一或多个像素,以及二进制散布图,其是利用所选检查算法而产生的。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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