[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201380037974.0 | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN104487851B | 公开(公告)日: | 2016-11-09 |
发明(设计)人: | 为实秀人;山崎功夫;西田正治;神原久美子 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 实现自动分析装置,该自动分析装置在吸引量少的分注条件下,能切实地检测该分注时的异常,进行可靠性高的分析。对于首次分注中的吸引动作,由统计距离计算部(206a)计算特征变量,计算利用基准数据选择部(206f)从存储器(206b)中取出的特征变量距离基准数据的统计距离(D)。利用比较部(206c)对统计距离(D)与存储在存储器(206b)中的预先规定的阈值进行比较,其结果提供给判定部(206d)。判定部(206d)在统计距离(D)小于规定的阈值时,进行首次的排出动作。控制器根据第二次以后的分注的分注量条件来判定是否能够单独进行判定,如果不能单独判定,则基于首次的判断量选择基准数据。基于所选择的基准数据,判定第二次以后的吸引动作的正常异常。 | ||
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【主权项】:
一种自动分析装置,其特征在于,具备:试样探针,吸引容纳在试样容器中的试样,并排出到反应容器;试剂探针,吸引容纳在试剂容器中的试剂,并排出到反应容器;分析部,对容纳在上述反应容器中的试样进行分析;压力传感器,检测上述试样探针的内部压力;信号处理部,从上述压力传感器获取利用上述试样探针首次从上述试样容器吸引并排出到反应容器的试样的吸引压力数据,在针对同一试样第n次利用上述试样探针从上述试样容器吸引并排出到反应容器的情况下,根据上述吸引压力数据,从多个正常异常判断基准数据之中选择最佳的正常异常判断基准数据,计算出利用上述压力传感器检测出的基于上述试样探针的第n次的同一试样吸引压力数据的特征变量,对计算出的特征变量与上述最佳的正常异常判断基准数据进行比较,判断由上述试样探针进行的试样的吸引是否存在异常;以及控制器,对上述试样探针、上述试剂探针、上述分析部以及上述信号处理部的动作进行控制,根据上述吸引压力数据的上述试样探针内的压力与即将结束试样吸引之前上述试样探针内的压力的压力差,进行选择上述最佳的正常异常判断基准数据,在针对上述同一试样第n次利用上述试样探针从上述试样容器吸引并排出到反应容器的情况下,如果第n次吸引并排出的试样的量少于预定的量,则上述信号处理部按照上述首次的试样信息的上述压力差及第n次的试样的吸引量来选择上述最佳的正常异常判断基准数据,如果上述吸引并排出的试样的量为上述预定的量以上,则按照上述吸引并排出的试样的吸引量来选择上述最佳的正常异常判断基准数据,对基于上述试样探针的同一试样的第n次的吸引压力数据的特征变量与上述选择的最佳的正常异常判断基准数据进行比较,判断由上述试样探针进行的试样的吸引是否存在异常,其中,2≤n,n为自然数。
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