[发明专利]用于确定薄膜卷的卷绕质量的方法有效
| 申请号： | 201380054252.6 | 申请日： | 2013-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN105008257B | 公开（公告）日： | 2017-10-31 |
| 发明（设计）人： | 弗兰克·霍夫曼 | 申请（专利权）人： | 温德默勒&霍乐沙两合公司 |
| 主分类号： | B65H18/26 | 分类号： | B65H18/26 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 德国伦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定薄膜(30)在卷绕辊(20)上的薄膜卷(10)的卷绕质量的方法，具有以下的步骤‑在薄膜(30)在卷绕辊(20)上卷绕期间确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)；‑确定薄膜卷(10)的所确定的卷硬度(WH)与薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一个预定值(V1、V2)的偏差；‑根据所确定的偏差来确定薄膜卷(10)的卷绕质量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 薄膜 卷绕 质量 方法 | ||
【主权项】：
用于确定薄膜(30)在卷绕辊(20)上的薄膜卷(10)的卷绕质量的方法，具有以下的步骤：‑薄膜(30)在卷绕辊(20)上卷绕期间直接在薄膜卷(10)上确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH),作为薄膜(30)的各薄膜层之间的空气隙的大小的尺度；‑确定薄膜卷(10)的所确定的卷硬度(WH)与薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一个预定值(V1、V2)的偏差；‑根据所确定的偏差来确定薄膜卷(10)的卷绕质量。
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