[发明专利]晶体管、存储器单元及半导体构造在审

专利信息
申请号: 201380059900.7 申请日: 2013-10-15
公开(公告)号: CN104798200A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 尼马尔·拉马斯瓦米;柯尔克·D·普拉尔;韦恩·肯尼 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 路勇
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一些实施例包含具有延伸到半导体基底中的栅极的半导体构造。导电掺杂源极及漏极区域在基底中与栅极邻近。栅极电介质具有:第一区段,其介于源极区域与栅极之间;第二区段,其介于漏极区域与栅极之间;及第三区段,其介于第一区段与第二区段之间。栅极电介质的至少一部分包括铁电材料。在一些实施例中,铁电材料在第一区段、第二区段及第三区段中的每一者内。在一些实施例中,铁电材料在第一区段或第三区段内。在一些实施例中,晶体管具有栅极、源极区域及漏极区域;且具有介于源极区域与漏极区域之间的沟道区域。晶体管具有栅极电介质,其包含介于源极区域与栅极之间的铁电材料。
搜索关键词: 晶体管 存储器 单元 半导体 构造
【主权项】:
一种半导体构造,其包括:半导体基底;栅极,其延伸到所述基底中;与所述栅极邻近的所述基底的第一区域为导电掺杂源极区域;且与所述栅极邻近且与所述第一区域隔开的所述基底的第二区域为导电掺杂漏极区域;栅极电介质,其包括介于所述源极区域与所述栅极之间的第一区段、介于所述漏极区域与所述栅极之间的第二区段及介于所述第一区段与所述第二区段之间的第三区段;且其中所述栅极电介质的至少一部分包括铁电材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380059900.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top